Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Название: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий Автор: У. Жу, Ж.Л. Уанг. Издательство: БИНОМ Год издания: 2013 Страниц: 598 Язык: Русский Качество: хорошее Формат: PDF Размер: 19,3 Mb